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测维-CW2010-Z三维测量显微镜
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测维-CW2010-Z三维测量显微镜

分类：机械包装 - 食品机械设备

公司：西安测维光电技术有限公司

产品介绍
    特点:以影像法为测量原理, 采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场，微分干涉，偏光的观察功能。所以对极细微的间隙高低差，夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。
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